Excise taxes, tax incidence and the flight to quality evidence from scanner data Javier Espinosa and William N. Evans
By: Espinosa, Javier
.
Contributor(s): Evans, William N
.
Material type: 







Item type | Current location | Home library | Call number | Status | Date due | Barcode |
---|---|---|---|---|---|---|
IEF | OP 581/2013/2-1 (Browse shelf) | Available | OP 581/2013/2-1 |
Browsing IEF Shelves Close shelf browser
Disponible también en línea a través de la Biblioteca del Instituto de Estudios Fiscales. Resumen. Conclusión. Bibliografía.
There are no comments for this item.